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1100nm CMOS Real Time Laser Beam Analyzer Beam Profiling Camera

1100nm CMOS en tiempo real láser de haz de análisis de haz de perfil de la cámara

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1100nm CMOS en tiempo real láser de haz de análisis de haz de perfil de la cámara

Cantidad de orden mínima :	1	Precio :	USD2750 - USD2900
Detalles de empaquetado :	1 pieza por caja	Tiempo de entrega :	30 días laborables
Condiciones de pago :	T/T	Capacidad de la fuente :	20pcs por mes

Lugar de origen:	China.	Nombre de la marca:	JINSP
Certificación:	CE ISO9001 IP30 IP40	Número de modelo:	BA1023

Información detallada
Área de detección efectiva:	11 mm*7 mm	Interfaz de datos:	USB3 Visión, GenlCam
Dimensión:	Se aplicarán las siguientes medidas:	Fuente de alimentación:	con una potencia de 12 V de corriente continua o con una potencia externa
Rango de longitud de onda:	280 nm a 1100 nm	Tamaño de la célula:	50,86 μm*5,86 μm
Sistemas operativos de soporte:	Windows 10 ((64 bits) y Linux ((Ubuntu X86)	Velocidad de fotogramas máxima:	41 fps@1920*1200
Resaltar:	Analisador de haz láser CMOS , Cámara de perfilado de haz CMOS , Analisador de haz láser en tiempo real

Descripción de producto

Cámara de perfilado de haz láser en tiempo real CMOS de 1100 nm

Especificaciones Clave

Atributo	Valor
Área de detección efectiva	11 mm × 7 mm
Interfaz de datos	USB3 Vision, GenlCam
Dimensión	78 × 45 × 38.5 mm (sin base)
Fuente de alimentación	Alimentado por USB o 12V CC alimentado externamente
Rango de longitud de onda	280nm-1100nm
Tamaño de celda	5.86μm × 5.86μm
Sistemas operativos compatibles	Windows 10 (64 bits) y Linux (Ubuntu X86)
Velocidad de fotogramas máxima	41 Fps @ 1920 × 1200

Descripción general del producto

La cámara de análisis de puntos de haz láser BA1023 USB 1920×1200 CMOS 280nm ~1100nm proporciona una medición precisa de las características del haz láser con su sensor CMOS de alta resolución y capacidades de análisis avanzadas.

Comparación en tiempo real de puntos de luz duales
Funcionalidad de recorte de fondo
Cámara de intensidad de luz opcional
Reconstrucción de puntos 2D y 3D
Ajuste gaussiano y supergaussiano
Comparación en tiempo real de doble haz (ubicación, distribución de intensidad de luz)

Características técnicas

Aplicaciones

Medición de la calidad del haz
Investigación óptica
Investigación y desarrollo de sistemas láser
Investigación de detección láser
Monitoreo en tiempo real de puntos de luz durante el procesamiento
Monitoreo de la distribución de la intensidad de la luz

Comparación de productos

Parámetro	BA1023	BA1024Ga	BA1024Gb	BA1024Ua	BA1024Ub
Rango de longitud de onda de la sonda	280nm ~ 1100nm
Área de detección efectiva	11 mm × 7 mm	13 mm × 8.7 mm	7 mm × 5.5 mm	4.9 mm × 3.7 mm
Sensor	2.3MP, 1/1.2" CMOS	20MP, 1" CMOS	2MP, 1/1.7" CMOS	0.4MP, 1/2.9" CMOS
SNR	40 dB	44.9 dB	41.5 dB	43.7 dB	42.9 dB
Tamaño de celda	5.86μm × 5.86μm	2.4μm × 2.4μm	4.5μm × 4.5μm	6.9μm × 6.9μm

Preguntas frecuentes

¿Cuál es el nombre de la marca del producto perfilador de haz?

El nombre de la marca es JINSP.

¿Cuál es el número de modelo del perfilador de haz?

El número de modelo es BA1023.

¿Cuál es la cantidad mínima de pedido?

La cantidad mínima de pedido es 1 unidad.

¿Cuáles son las condiciones de pago?

Las condiciones de pago son T/T (Transferencia telegráfica).

¿Cuál es el tiempo de entrega?

El tiempo de entrega estándar es de 30 días hábiles.

etiqueta:

Espectrómetro Raman de mano(30)

Espectrómetro de fibra óptica(30)

Analisador LIBS(10)

Instrumentos de proceso del analizador de Raman(10)

Espectrómetro compacto(24)

Profilador de haz CMOS(6)

analizador de gas Raman(15)

Espectrómetro de infrarrojos cercanos(20)

Láser de estado sólido de pulso de nanosegundos(5)

Espectrómetro de Raman en el banco.(10)

Espectrómetro de Raman modular(6)

Laser de estado sólido de ancho de línea estrecho(6)

sonda de espectroscopia de raman(6)

Espectrómetro de los países y territorios ultramarinos(6)

Espectrómetro FTIR(6)

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Analisador de haz láser CMOS

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JINSP Company Limited es un proveedor profesional con más de 17 años de experiencia en el desarrollo y fabricación de productos de tecnología de detección espectral.