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Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser

Quantidade de ordem mínima : 1 Preço : USD2750 - USD2900
Detalhes da embalagem : Pacote de Envio Internacional Tempo de entrega : 30 dias úteis
Termos de pagamento : T/T Habilidade da fonte : 100 / 30 dias úteis
Lugar de origem: China Marca: JINSP
Certificação: CE ISO9001 IP30 IP40 Número do modelo: BA1023
Documento: Brochure JINSP BEAM PROFILE...EN.pdf

Informação detalhada

Faixa de comprimento de onda: 280 nm-1100 nm Área de detecção efetiva: 11 mm*7 mm
Tamanho da célula: 50,86 μm*5,86 μm Área mínima de detecção: 30 μm (5 pixels)
Snr: 40 dB Sistemas operacionais de suporte: Windows 10 ((64bit) e Linux ((Ubuntu X86)
Destacar:

Perfilador de feixe CMOS preciso

,

Profilador óptico preciso

,

Profilador de feixe CMOS de alto desempenho

Descrição de produto

Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser
Principais especificações
Atributo Valor
Faixa de comprimento de onda 280 nm-1100 nm
Área de detecção eficaz 11 mm*7 mm
Tamanho da célula 50,86 μm*5,86 μm
Área mínima de detecção 30 μm (5 pixels)
SNR 40 DB
Sistemas operacionais de suporte Windows 10 ((64bit) e Linux ((Ubuntu X86)
Visão geral do produto

O BA1023 CMOS Beam Profiler fornece medição e análise de pontos de feixe de laser precisos para comprimentos de onda que variam de 280 nm a 1100 nm. Com um design compacto (78 × 45 × 38.5 mm) e interface USB3 Vision,Este instrumento de nível profissional fornece resultados precisos para pesquisa a laser e aplicações industriais.

Características essenciais:
  • 2.3MP, 1/1.2" sensor CMOS com 40dB SNR
  • Comparação e análise em tempo real de dois pontos de luz
  • Opções de câmera de corte de fundo e intensidade de luz
  • Opções de alimentação externa por USB ou 12 V DC
  • Compatível com sistemas Windows 10 e Linux
Especificações técnicas
Código do produto BA1023 BA1024Ga BA1024Gb BA1024Ua BA1024Ub
Faixa de comprimento de onda da sonda 280 nm ~ 1100 nm
Área de detecção efetiva 11 mm*7 mm 13 mm*8,7 mm 7 mm*5,5 mm 40,9 mm*3,7 mm
Sensor 2.3MP, 1/1.2" CMOS 20MP, CMOS de 1" 2MP, 1/1.7 " CMOS 0.4MP, 1/2.9 " CMOS
SNR 40 dB 440,9 dB 41.5 dB 430,7 dB 420,9 dB
Ganhar controlo 0~20 dB 0~24 dB
Imagens do produto
Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser 0 Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser 1 Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser 2 Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser 3 Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser 4 Perfilador de feixe CMOS preciso de alto desempenho para pesquisa de sistemas a laser 5
Aplicações
  • Optimização do processo de corte e soldagem a laser
  • Investigação académica em fotónica e física do laser
  • Controlo da qualidade dos sistemas a laser industriais
  • Medidas de precisão de gravura a laser
  • Alinhamento e ensaio do sistema óptico
Apoio e Serviços

O nosso pacote de apoio abrangente inclui:

  • Assistência à instalação e à instalação
  • Resolução de problemas técnicos
  • Serviços de calibração de dispositivos
  • Manutenção e reparação
  • Programas de formação dos operadores
Perguntas Frequentes
P: Qual é a marca deste perfis de feixe?

A: A marca é JINSP.

P: Que certificações tem este produto?

R: Certificações CE, ISO9001, IP30 e IP40.

P: Qual é o prazo de entrega?

R: Os produtos normais são enviados dentro de 30 dias úteis.

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