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Accurate CMOS Beam Profiler High Performance For Laser System Research

Genauer CMOS-Beam-Profiler mit hoher Leistung für Laser-Systemforschung

Kontakt

Genauer CMOS-Beam-Profiler mit hoher Leistung für Laser-Systemforschung

Min Bestellmenge :	1	Preis :	USD2750 - USD2900
Verpackung Informationen :	Internationales Versandpaket	Lieferzeit :	30 Arbeitstage
Zahlungsbedingungen :	T/T	Versorgungsmaterial-Fähigkeit :	100 / 30 Arbeitstage

Herkunftsort:	China	Markenname:	JINSP
Zertifizierung:	CE ISO9001 IP30 IP40	Modellnummer:	BA1023

Detailinformationen
Wellenlängenbereich:	280 nm bis 1100 nm	Wirksame Sensorfläche:	11 mm*7 mm
Zellgröße:	50,86 μm*5,86 μm	Mindestdetektionsbereich:	30 μm (5 Pixel)
SNR:	40 dB	Unterstützung von Betriebssystemen:	Windows 10 ((64bit) und Linux ((Ubuntu X86)
Hervorheben:	Genauer CMOS-Strahlprofiler , Genauer optischer Strahlprofiler , Hochleistungs-CMOS-Strahlprofiler

Produkt-Beschreibung

Genauer CMOS-Beam-Profiler mit hoher Leistung für Laser-Systemforschung

Schlüsselmerkmale

Eigenschaft	Wert
Wellenlängenbereich	280 nm bis 1100 nm
Wirksame Sensorfläche	11 mm*7 mm
Zellgröße	50,86 μm*5,86 μm
Mindestdetektionsbereich	30 μm (5 Pixel)
SNR	40 DB
Unterstützung der Betriebssysteme	Windows 10 ((64bit) und Linux ((Ubuntu X86)

Produktübersicht

Der BA1023 CMOS Beam Profiler bietet eine präzise Messung und Analyse von Laserstrahlpunkten für Wellenlängen von 280 nm bis 1100 nm. Mit einem kompakten Design (78×45×38.5 mm) und einer USB3 Vision-Schnittstelle,Dieses professionelle Instrument liefert genaue Ergebnisse für Laserforschung und industrielle Anwendungen.

Kernmerkmale:

2.3MP, 1/1.2" CMOS-Sensor mit 40dB SNR
Vergleich und Analyse von Doppellichtstellen in Echtzeit
Hintergrundbeschneidung und Lichtintensitätsoptionen
USB- oder 12V Gleichspannung
Kompatibel mit Windows 10 und Linux-Systemen

Technische Spezifikation

Produktcode	BA1023	BA1024Ga	BA1024Gb	BA1024Ua	BA1024Ub
Wellenlängenbereich der Sonde	280 nm ~ 1100 nm
Wirksame Sensorfläche	11 mm*7 mm	13 mm*8,7 mm	7 mm*5,5 mm	40,9 mm*3,7 mm
Sensor	2.3MP, 1/1.2" CMOS	20 MP, 1 " CMOS	2 MP, 1/1.7 " CMOS	0.4MP, 1/2.9" CMOS
SNR	40 dB	440,9 dB	41.5 dB	430,7 dB	420,9 dB
Kontrolle gewinnen	0 bis 20 dB	0 bis 24 dB

Produktbilder

Anwendungen

Optimierung des Laserschnitt- und Schweißprozesses
Wissenschaftliche Forschung in der Photonik und Laserphysik
Qualitätskontrolle von industriellen Lasersystemen
Präzisionsmessungen mit Lasergravur
Ausrichtung und Prüfung optischer Systeme

Unterstützung und Dienstleistungen

Unser umfassendes Förderpaket umfasst:

Installations- und Einrichtungshilfe
Technische Fehlerbehebung
Kalibrierungsdienste für Geräte
Wartung und Reparatur
Ausbildungsprogramme für Betreiber

Häufig gestellte Fragen

F: Wie heißt dieser Strahlprofiler?

A: Der Markenname ist JINSP.

F: Welche Zertifizierungen hat dieses Produkt?

A: CE, ISO9001, IP30 und IP40 Zertifizierungen.

F: Wie ist die Lieferzeit?

A: Standardprodukte werden innerhalb von 30 Werktagen geliefert.

Größe und Tag:

Handheld Raman Spektrometer(15)

Glasfaserspektrometer(10)

LIBS-Analysator(10)

Raman-Analysator-Prozessgeräte(10)

Kompaktes Spektrometer(14)

CMOS-Strahlprofiler(6)

Raman-Gasanalysator(10)

Nahe-Infrarot-Spektrometer(10)

Nanosekunden-Puls-Festkörperlaser(5)

Raman-Spektrometer auf der Bank(10)

Moduläres Raman-Spektrometer(6)

Laser mit enger Linienbreite im Festkörper(6)

Raman-Spektroskopieprobe(6)

OZT-Spektrometer(6)

FTIR-Spektrometer(6)

Genauer CMOS-Beam-Profiler mit hoher Leistung für Laser-Systemforschung

Genauer CMOS-Strahlprofiler

Genauer optischer Strahlprofiler

Hochleistungs-CMOS-Strahlprofiler

Laserstrahlprofiler

Lichtstrahlprofilkamera

Laserstrahl-Analysator

JINSP Company Limited ist ein professioneller Lieferant mit über 17 Jahren Erfahrung in der Entwicklung und Herstellung von Spektraldetektiertechnologieprodukten.