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홈 제품 소개CMOS 빔 프로파일러고 정밀 CMOS 빔 프로파일러 첨단 레이저 특성화
High Precision CMOS Beam Profiler Reliable For Advanced Laser Characterization
High Precision CMOS Beam Profiler Reliable For Advanced Laser Characterization
고 정밀 CMOS 빔 프로파일러 첨단 레이저 특성화 High Precision CMOS Beam Profiler Reliable For Advanced Laser Characterization High Precision CMOS Beam Profiler Reliable For Advanced Laser Characterization
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고 정밀 CMOS 빔 프로파일러 첨단 레이저 특성화

최소 주문 수량 : 1 가격 : USD2750 - USD2900
포장 세부 사항 : 국제 배송 패키지 배달 시간 : 30 일
지불 조건 : T/T 공급 능력 : 영업 일 30 일 당 100pc
원래 장소: 중국 브랜드 이름: JINSP
인증: CE ISO9001 IP30 IP40 모델 번호: BA1023
문서: Brochure JINSP BEAM PROFILE...EN.pdf

상세 정보
차원: 78 * 45 * 38.5mm (베이스 제외) 최대 프레임률: 41fps@1920*1200
데이터 인터페이스: USB3 비전, GenlCam 전원공급장치: USB 전원 또는 12V DC 외부 전원
최소 감지 영역: 30μm(5픽셀)
강조하다:

고 정밀 CMOS 빔 프로파일러

,

고 정밀 레이저 빔 분석기

,

신뢰할 수 있는 CMOS 빔 프로파일러

제품 설명

고 정밀 CMOS 빔 프로파일러 첨단 레이저 특성화
주요 사양
차원 78*45*38.5mm (기반 없이)
최대 프레임 속도 41 Fps@1920*1200
데이터 인터페이스 USB3 비전, GenlCam
전원 공급 USB 전원 또는 12V DC 외부 전원
최소 탐지 영역 30μm (5 픽셀)
제품 개요

BA1023 USB 1920x1200 CMOS 280nm ~ 1100nm 레이저 빔 스팟 분석 시스템은 정확한 레이저 특징을 나타내는 고급 기능을 제공합니다.이 고성능 빔 프로파일러는 40dB의 신호-음악 비율로 정확한 측정을 제공합니다.연구, 제조 및 산업 환경에서 까다로운 응용 프로그램에 이상적입니다.

주요 특징
  • 나란히 빔 분석을 위한 이중 빛 점의 실시간 비교
  • 소음을 제거하고 측정 정확도를 향상시키기 위해 배경 절개
  • 정밀한 빔 강도 측정을 위한 통합된 빛 강도 카메라
  • USB3 비전 및 GenlCam 인터페이스 고속 데이터 전송
  • 유연한 전원 옵션 (USB 또는 12V DC) 을 갖춘 컴팩트 디자인
기술 사양
제품 코드 BA1023 BA1024Ga BA1024Gb BA1024Ua BA1024Ub
탐사 파장 범위 280nm ~ 1100nm
효과적 감지 영역 11mm*7mm 13mm*8.7mm 7mm*5.5mm 40.9mm*3.7mm
센서 2.3MP, 1/1.2" CMOS 20MP, 1" CMOS 2MP, 1/1.7" CMOS 0.4MP, 1/2.9" CMOS
SNR 40 dB 44.9 dB 41.5 dB 43.7 dB 42.9 dB
통제력을 얻는다 0~20dB 0~24dB

세포 크기 50.86μm*5.86μm 20.4μm*2.4μm 40.5μm*4.5μm 60.9μm*6.9μm
최소 탐지 영역 30μm (5 픽셀) 12μm (5 픽셀) 22.5 μm (5 픽셀)

최대 프레임 레이트 41 fps@1920*1200 5.9 fps@5472*3648 90 fps@1624*1240 526.5 fps @720*540 모노 8
침입 보호 IP30 IP40

데이터 인터페이스 USB GIGE USB

파일 저장 *.jpg,*.mat,*.csv,*.xml
빛 감소 부품 1인치 프레임 없는 필터와 호환되는 삽입식 및 배럴 타입 옵션
저장 온도 -30°C ~ +70°C
제품 이미지
BA1023 Beam Profiler front view BA1023 Beam Profiler side view BA1023 Beam Profiler interface details BA1023 Beam Profiler measurement display BA1023 Beam Profiler software interface BA1023 Beam Profiler application example
신청서

JINSP BA1023 빔 프로파일러는 280nm-1100nm 파장 범위에서 정밀한 레이저 빔 분석을 위해 설계되었습니다. 고급 기능은 다음과 같은 데 이상적입니다.

  • 레이저 제조 및 품질 관리
  • 연구 및 개발 연구소
  • 의료용 레이저
  • 군사 및 국방용
  • 산업용 레이저 가공 (접속, 절단, 굴착)
지원 및 서비스

우리의 포괄적 인 지원 패키지는 제품 라이프 사이클 내내 최적의 성능을 보장합니다.

  • 설치 및 설정 지원
  • 기술 문제 해결 및 진단
  • 정기적인 소프트웨어 업데이트
  • 교육 및 교육 자원
  • 수리 및 교체 서비스

모든 BA1023 유닛에는 1년 보증과 무료 수리 서비스가 포함되어 있습니다.

자주 묻는 질문
Q1: 이 빔 프로파일러의 브랜드 이름은 무엇입니까?

A1: 이 빔 프로파일러의 브랜드 이름은 JINSP입니다.

Q2: 이 빔 프로파일러의 모델 번호는 무엇입니까?

A2: 이 빔 프로파일러의 모델 번호는 BA1023입니다.

Q4: 이 빔 프로파일러에 대한 지불 조건은 무엇입니까?

A4: 이 빔 프로파일러의 지불 조건은 T/T입니다.

Q5: 이 빔 프로파일러의 배송 시간은 얼마입니까?

A5: 이 빔 프로파일러의 배송 시간은 30 일입니다.

태그:

레이저 빔 프로파일러

빔 프로파일링 카메라

레이저 빔 분석기

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