Φασματόμετρο οπτικών ινών υψηλής ακρίβειας με προσαρμόσιμη φασματική ανάλυση

Το φασματομετρητή SR100B αντιπροσωπεύει την κορυφή των τεχνολογικών επιτευγμάτων στον τομέα των υψηλής απόδοσης συσκευών αισθητήρων CCD με πίσω φωτισμό.Είναι ιδιαίτερα κατάλληλο για ένα ευρύ φάσμα βιομηχανικώνΤο κέντρο αυτού του εξελιγμένου οργάνου είναι το διάσημο τσιπ Hamamatsu S10420 CCD,που διαθέτει μια μεγάλη περιοχή ανίχνευσης που συμβάλλει στην συλλογή λεπτομερών φασματικών δεδομένων με αξιοσημείωτη ακρίβεια.

• Υψηλή ευαισθησία - Εξοπλισμένος με ανιχνευτή οπίσθιας φωτεινής σειράς περιοχής με υψηλή κβαντική απόδοση, βελτιστοποιητέα υπεριώδης ζώνη
• Υψηλή ανάλυση - Ανάλυση < 1,0nm@10μm (200~1100nm)
• Υψηλή ευελιξία - 180~1100nm, συμβατή με πολλαπλές διεπαφές, συμπεριλαμβανομένου του USB3.0, RS232 και RS485
• Υψηλή αξιοπιστία - Υψηλό SNR και εξαιρετική θερμική απόδοση

• Ανίχνευση απορρόφησης, διαπερατότητας και αντανάκλασης
• Χαρακτηρισμός της πηγής φωτός και του μήκους κύματος του λέιζερ
• Μονάδα προϊόντος OEM: φάσμα φθορισμού, φάσμα Raman κλπ.

Η JINSP Company Limited, συντομευμένη ως "JINSP", είναι επαγγελματίας προμηθευτής με πάνω από 17 χρόνια εμπειρίας σε προϊόντα τεχνολογίας φασματικής ανίχνευσης, συμπεριλαμβανομένων των τεχνολογιών Raman, FT-IR, LIBS κλπ.Μετά από 17 χρόνια συσσώρευσης τεχνολογίας, οι βασικές βασικές τεχνολογίες της εταιρείας έχουν φτάσει στην διεθνή ηγετική θέση στο επίπεδο, και ο σωρευτικός αριθμός των αιτήσεων διπλώματος ευρεσιτεχνίας ξεπέρασε τα 200.

Εκτός από την κύρια έδρα της που βρίσκεται στην πολυσύχναστη πόλη του Πεκίνου, η JINSP έχει δημιουργήσει μια πλήρως ιδιοκτησιακή θυγατρική εγκατάσταση παραγωγής που βρίσκεται στην επαρχία Τζιανγκσού της Κίνας.

Η εταιρεία JINSP έλαβε ISO9001:2015, ISO14001:2015Το JINSP μπορεί να παρέχει τα απαιτούμενα πιστοποιητικά, όπως πιστοποίηση από το Υπουργείο Δημόσιας Ασφάλειας ή το Εθνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας,Πιστοποίηση περιβαλλοντικού επιπέδου, Πιστοποίηση επιπέδου IP, Πιστοποίηση CE, Έκθεση ταυτοποίησης μεταφοράς, Πιστοποίηση ECAC της ΕΕ, Γερμανικές δοκιμές ασφάλειας ΤΠΕ κλπ.